איתן אופנהיים, לשעבר נשיא ומנכ"ל נובה מכשירי מדידה<br>קרדיט: דרור דוד
איתן אופנהיים, לשעבר נשיא ומנכ"ל נובה מכשירי מדידה קרדיט: דרור דוד

חברת נובה הדואלית, ספקית פתרונות מדידה בתחום המטרולוגיה עדכנה היום כי אחד מיצרני השבבים הגדולים והמובילים בעולם בחר לפרוס בקווי הייצור שלו את פלטפורמת הפריזם של נובה לפיתוח תהליכי ייצור של שבבי זיכרון מתקדמים.

 

הבחירה בפלטפורמת הפריזם נעשתה לאחר תהליך בחינה ממושך, בו הציגה המערכת ביצועים טובים במדידות של אפליקציות קריטיות, דבר המתאפשר באמצעות טכנולוגיה שפיתחה החברה – Spectral Interferometry (SI). לטכנולוגיית SI יכולת מוכחת למדוד מידע ספקטרלי שאינו נגיש בטכנולוגיות האופטיות המסורתיות למדידת ממדים קריטיים.

 

השילוב של חומרה ותוכנה מתקדמות מעניק לפריזם יכולת למדוד בתוך השבב עצמו מבנים תלת מימדיים מורכבים בעלי יחס רוחב גובה גבוה במיוחד, אשר חיוניים לביצועים ולאמינות של השבבים–זאת תוך הפרדה בין שכבות שונות.

 

"בחירה זו של אחד מיצרני השבבים המובילים בעולם מעידה על נובה כמובילת חדשנות שממשיכה לחזק את מעמדה כספק מוביל של פתרונות בקרה בתהליכי ייצור מתקדמים" ציין איתן אופנהיים, נשיא ומנכ"ל נובה.

 

"יכולותיה של נובה לשלב טכנולוגיות חומרה חדשניות עם יכולות תוכנה מתקדמות מספקות ערך רב ללקוחותיה, ומאפשרות להם לפתור אתגרים מורכבים ביותר בדורות מתקדמים של שבבים, ולקצר את מחזורי הפיתוח וזמן הגעתם לשוק. אנחנו מעודדים מהביקוש לפריזם בקרב לקוחות מובילים מכל הסגמנטים ומצפים שתהליכי אבלואציה נוספים יהפכו להזמנות ברבעונים הקרובים."

תגובות לכתבה

הוסיפו תגובה

אין לשלוח תגובות הכוללות מידע המפר את תנאי השימוש